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基于深度学习对芯片的检测
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基于深度学习对芯片的检测
来源:
晗曙图像
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作者:
probf0458
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发布时间:
2020-07-21
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经过多重测试,我司完成对IGB封装前的前序检测,大幅度提高检测效率和准确性,解决人工视觉疲劳问题。
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